G-616:30-17:00

低ESLコンデンサの活用によるノイズ低減の検証と応用
RITAエレクトロニクス株式会社
執行役員CTO 開発・ソリューション本部長
田中 顕裕 様

講演概要

プリント基板上のLSI電源ノイズとこれに起因する放射ノイズを抑制するため、LW逆転型や3端子等の低ESLコンデンサが使用されています。これらの特性を活かすプリント基板の設計方法を、パワーインテグリティ・パラメータ(Z11、Z21)の実測と電磁界シミュレーションで検証した結果をご紹介します。また、半導体と一般的な2端子コンデンサが載る複数種類の基板について放射ノイズの実測とシミュレーションを行い、Z11やZ21等との相関性を検討した結果もご案内いたします。

使用ソフトウェア

ANSYS SIwave

キーワード

パワーインテグリティ、放射ノイズ、コンデンサ、ESL、実測、電磁界シミュレーション

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