G-113:00-13:30

フラッシュメモリにおけるTotem Vectorless Signal EM解析事例紹介
東芝メモリ株式会社
メモリ事業部メモリ設計第二部設計メソドロジ・インフラ担当 主務
小野 祐介 様
東芝メモリシステムズ株式会社
メモリ設計技術部 メモリLSI設計第三担当 主務
土屋 忠良 様

講演概要

フラッシュメモリの高密度化・高性能化に伴い、周辺回路が大規模化する一方、高品質な製品提供が求められている。そのため、レイアウト品質を保証するElectro-Migration(EM)検証の重要性が高まっている。本講演では、全配線の高精度なEM検証を行うことのできるTotem Vectorless Signal EM解析機能のフラッシュメモリ設計への適用事例を紹介する。

使用ソフトウェア

ANSYS Totem

キーワード

Totem, Vectorless Signal EM

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